光ファ@ @バ関連製品

一般的に,ケーブル外径の10倍か,または収納している光ファイバの最小曲げ半径か,いずれか大きい数値がケーブルの許容曲げ半径となります。光ファイバの許容曲げ半径は通常の30 mmですので,ケーブル外径がいくら細くても,30毫米以下に曲げることはできません。なお,住友電工は,許容曲げ半径15毫米の毫米ファイバ“PureEther-AccessとSMファイバ“PureAccess-PB”,7.5毫米のSMファイバ“PureAccess-A2を開発。光ケ，ブルの曲げ半径に革新をもたらしています。

コア径62.5μm仕様は米国で広く用いられ,50μm仕様は国内で一般的な仕様です.62.5μmと50μmでは使用する伝送機器が異なりますが,62.5μm仕様はコア径が大きいので伝送機器との結合が容易になり,機器の価格が安価になります。50μm仕様は機器の価格は相対的に高くなりますが,光ファイバの帯域が広帯域になるメリットがあります。近年では広帯域光ファイバを使用したギガビットイーサ,10ギガビットイーサの普及によってコア径50μmの仕様が主流になりつつあります。

主にlapシ，ス型とwb型があります。圈シース型は,シース内面にアルミニウムテープを溶着し,防湿・防水機能をもたせていますが,シース損傷などによる浸水時には,ケーブル内を走水することがあります。一方,WB型はケーブル心に吸水テープを巻き,防湿・防水機能をもたせているため,浸水時に吸水材が膨張し,走水を防止できます。

光ファイバの接続損失の測定にはOTDR)法が広く使用されていますが,モードフィールド径の異なるファイバの接続損失を測定した際には,真の接続損失と異なる”見かけ上“の接続損失が測定されます。otdr法では，光ファバに入射した光の後方散乱光を受光することで測定を行います。後方散乱光の発生する割合を後方散乱係数と呼びますが,モードフィールド径の異なるファイバでは,この後方散乱係数が異なります。パルス入射側ファイバの後方散乱係数より,出射側ファイバの後方散乱係数が小さい場合,出射側ファイバから戻ってくる光のレベルが低下して見かけ上の接続損失が大きく測定されます。反対からパルス入射した場合は，真の接続損失よりも見かけ上小さく測定されます。しかし,両側からOTDR)を測定し,その値の和をとって2で割ることにより,見かけ上の損失はキャンセルされ,真の接続損失を求めることができます。同じSMファイバどうし(モードフィールド径9.2μm)を接続した場合でも,モードフィールド径は±0.4μmの仕様公差内で異なっていますので,正確な接続損失を知りたい場合には,両側からの測定が必要になります。

●シングルモ，ドの場合
図1のように，測定系を構成します。
(jis c 5961に準拠した方法)

被測定コネクタにパワーメータを直接つなげられない場合(パネル等にアダプタが搭載されている場合等),図2のようにマルチモードファイバのパッチコードを受け側に使用します。

●マルチモ，ドの場合
定常励振モ，ドで測定するために，図3のように励振器※を測定系に導入します。
※測、定するファイバと同種の長尺ダミーファイバ,およびGSGG型励振器(従来より通信事業者等が使用)。

LED光源を使用する場合,図4のように1.5 dbモードスクランブラを作成して,図3の励振器の代替とします。
(jis c 5961による方法)

カタログ掲載しております弊社クロ，ジャは，追加部材不要です。
弊社では,通常,再組立に必要となる部材グロメット・ガスケットにシーリングテープの不要な低硬度ゴムを採用しているため,再利用が可能で部
材交換無しで再組立が可能となっております。
ただし，再組立作業時にグロメット·ガスケットにキズや変形などがある場合は交換が必要になります。交換要否は現品目視でしか判断ができない
ため，現地調査後，施工前に個別部材単位でご用意していただくことも推奨しております。
部材販売も実施しておりますので，各営業窓口へお問い合わせ下さい。

設置後約10年以降を目安に定期点検の実施，スリ，ブの交換を推奨しております。弊社架空専用クロージャのスリーブは,スリーブ開閉時折り曲げのため,ヒンジ部を有する構造となっております。設置環境や使用履歴に起因し,クロージャの設置から早いものでは10年程度経過すると,スリーブヒンジ部分に亀裂が発生する現象が現れます。この現象は,紫外線やスリーブ開閉時に繰り返し与えられるストレス等により,可動部であるスリーブヒンジ部分が真っ先に寿命を迎えていると推定しております。クロ，ジャを長期間ご使用いただくために，定期点検の実施をお願いいたします。